老化測(cè)試是電容器保證可靠性水平和質(zhì)量的篩選方法之一，接下來為您講解該測(cè)試的相關(guān)信息。電容器是容納電荷的器件，兩個(gè)相互靠近的導(dǎo)體，中間夾一層不導(dǎo)電的絕緣介質(zhì)，就構(gòu)成了電容器。當(dāng)電容器的兩個(gè)極板之間加上電壓時(shí)，電容器就會(huì)儲(chǔ)存電荷。電容器的電容量在數(shù)值上等于一個(gè)導(dǎo)電極板上的電荷量與兩個(gè)極板之間的電壓之比，電容器的電容量的基本單位是法拉(F)。在電路圖中通常用字母C表示電容元件。

電容器在調(diào)諧，旁路，耦合，濾波等電路中起著重要的作用。晶體管收音機(jī)，CD唱機(jī)，錄音機(jī)的調(diào)諧電路要用到它。彩色電視機(jī)的耦合電路，旁路電路等也要用到它。

電容器老化測(cè)試的目的：

考察電容器隨著使用時(shí)間的推移，產(chǎn)品性能的變化狀況，考察產(chǎn)品使用的可靠性。

電容器老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和方法：

電容器老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

1.GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)，第2部分》；

2.IEC 60068-2-2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境測(cè)試，第2-2部分：試驗(yàn)，試驗(yàn)B：干熱》；

3.MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》。

電容器老化測(cè)試方法：

1.常溫額定電壓下，保持12分鐘，漏電流｛當(dāng)UR≤100V時(shí)，I≤0.01CV或3μA（取大者）；當(dāng)UR＞100V時(shí)，I≤0.0.CV+10μA｝；

2.高溫85℃，額定電壓下，連續(xù)24小時(shí)檢測(cè)其漏電流波動(dòng)情況；

3.每5分鐘記錄一次數(shù)據(jù)，要求老化過程中漏電流無大的波動(dòng)，且小于10倍初始極限值；

4.恢復(fù)至常溫，保持12分鐘；

5.監(jiān)測(cè)漏電流，損耗角，絕緣電阻符合常溫下標(biāo)準(zhǔn)。

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